TY  - BOOK
TI  - Deep Learning-basierte Optimierung der automatischen optischen Qualitätssicherung in einer Elektronik-Fertigung
T3  - 
T3  - Band 18
AU  - Schwebig, Alida Ilse Maria and Tutsch, Rainer and Heizmann, Michael
editor = {Tutsch, Rainer},
editor = {Heizmann, Michael},
A2  - Tutsch, Rainer
A2  - Heizmann, Michael
CY  - Düren
PB  - Shaker Verlag
PY  - 2021
PY  - 2021
LA  - German
KW  - Hochschulschrift
KW  - Elektroniktechnologie
KW  - Elektronische Baugruppe
KW  - Lötverbindung
KW  - Inspektion
KW  - Fehlererkennung
KW  - Deep learning
KW  - DE-101
SN  - 9783844080254
SN  - 3844080252
UR  - https://www.gbv.de/dms/tib-ub-hannover/1756526087.pdf
UR  - https://katalog.fid-bbi.de/Record/183-1756526087
ER  -