3rd International Symposium on Knowledge Acquisition and Modeling (KAM), 2010 : 20 - 21 Oct. 2010, Wuhan, China

Bibliographische Detailangaben

Titel
3rd International Symposium on Knowledge Acquisition and Modeling (KAM), 2010 20 - 21 Oct. 2010, Wuhan, China
verantwortlich
Wu, Yanwen (Sonstige); Institute of Electrical and Electronics Engineers (Sonstige)
veröffentlicht
Piscataway, NJ: IEEE, 2010
Erscheinungsjahr
2010
Medientyp
E-Book Konferenzbericht
Datenquelle
K10plus Verbundkatalog
Tags
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