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Radig, B., & Florczyk, S. Pattern recognition: 23rd DAGM symposium, Munich, Germany, September 12-14, 2001 : proceedings. Berlin: Springer.

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Pattern recognition : 23rd DAGM symposium, Munich, Germany, September 12-14, 2001 : proceedings / Bernd Radig, Stefan Florczyk (eds.) . — Berlin : Springer. — xv, 452 p.; ill; 24 cm. — ISBN 3540425969 (pbk.) :

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Radig, Bernd., and Stefan Florczyk. Pattern Recognition: 23rd DAGM Symposium, Munich, Germany, September 12-14, 2001 : Proceedings.Berlin: Springer.

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